发明名称 TOPOGRAPHIC MEASUREMENT OF AN OBJECT
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur topographischen Messung eines Objekts (1). Um die topographische Messung des Objekts (1) zu verbessern, insbesondere zu beschleunigen, weist die erfindungsgemäße Vorrichtung mindestens ein Projektionsmittel (2) zur Projektion einer Sequenz aus mehreren Messmustern (3) auf das Objekt (1) auf, wobei ein Messmuster (3) jeweils ein mit einer Wertesequenz moduliertes periodisch moduliertes Phasenschiebemuster beinhaltet, wobei die Phasenschiebemuster eine Phasenverschiebung gegeneinander aufweisen, wobei die Wertesequenzen ortsfest gegeneinander sind, und mit Mitteln zur Erfassung (4) und mit Mitteln zur Auswertung (5) der auf das Objekt (1) projizierten Messmuster (3), wobei die Phasenverschiebung der Phasenschiebemuster und die Modulation mit den Wertesequenzen derart gewählt sind, dass Anteile der Phasenschiebemuster und der Wertesequenzen aus den projizierten Messmustern (3) unabhängig voneinander auswertbar sind.</p>
申请公布号 WO2010136329(A1) 申请公布日期 2010.12.02
申请号 WO2010EP56417 申请日期 2010.05.11
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;WISSMANN, PATRICK;FORSTER, FRANK 发明人 WISSMANN, PATRICK;FORSTER, FRANK
分类号 G01B11/25 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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