发明名称 改良式电路板测试治具结构
摘要
申请公布号 TWM393956 申请公布日期 2010.12.01
申请号 TW099213185 申请日期 2010.07.09
申请人 陈俞洁 发明人 陈俞洁
分类号 H05K3/00 主分类号 H05K3/00
代理机构 代理人 赖安国 台北市信义区东兴路37号9楼;李政宪 台北市信义区东兴路37号9楼;王立成 台北市信义区东兴路37号9楼
主权项 一种改良式电路板测试治具结构,其包含有:一底座,系设有多数插槽;一密度板模组,系设于底座一侧,其包含有相互层叠之第一密度板、第二密度板及万用密度板组;多数接触单元,系设于第一及第二密度板中;一针板模组,系设于密度板模组上,其具有分别与各接触单元顶面抵接之探针;以及多数传输端子,系设于万用密度板组中且分别与各接触单元底部抵接,且各传输端子底面系分别一连接与各插槽结合之导线。如申请专利范围第1项所述之改良式电路板测试治具结构,其中,该第一、二密度板及万用密度板组上系设有多数相对应之通孔,而各接触单元系分别设于第一及第二密度板之各通孔中,且各传输端子系分别设于万用密度板组之通孔中。如申请专利范围第1项所述之改良式电路板测试治具结构,其中,该第一及第二密度板之间系设有一束套薄膜。如申请专利范围第1项所述之改良式电路板测试治具结构,其中,各传输端子之底面系分别设有一与导线连接之限位孔。
地址 桃园县芦竹乡文新街345巷30号