| 发明名称 |
Inspection system having a self-aligning probe assembly |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2470649(A) |
申请公布日期 |
2010.12.01 |
| 申请号 |
GB20100008667 |
申请日期 |
2010.05.25 |
| 申请人 |
GENERAL ELECTRIC COMPANY |
发明人 |
BYUNGWOO LEE;YANYAN WU;NICHOLAS JOSEPH KRAY |
| 分类号 |
G01B5/012;G01B5/00;G01B7/00;G01B7/012;G01B7/016 |
主分类号 |
G01B5/012 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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