| 发明名称 | 确定透平叶片内缺陷的方法和设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种确定透平叶片(7)内缺陷的方法和测量及计算装置(21)以及一种用于将探头(18)固定在透平叶片表面(13)上的固定装置(14)。 | ||
| 申请公布号 | CN101027552B | 申请公布日期 | 2010.12.01 |
| 申请号 | CN200580025012.9 | 申请日期 | 2005.05.12 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 迈克尔·克劳森-冯兰肯舒尔茨;迈克尔·奥普海斯 |
| 分类号 | G01N29/11(2006.01)I;G01N29/22(2006.01)I;G01N29/28(2006.01)I;G10K11/34(2006.01)N;G01S15/89(2006.01)N;F01D21/00(2006.01)N | 主分类号 | G01N29/11(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 郝俊梅;杨梧 |
| 主权项 | 1.一种确定透平叶片(7)内缺陷的方法，其特征在于下列步骤，-制造固定装置(14)，其中该固定装置(14)的外部几何形状与透平叶片表面(13)的一部分的外部几何形状相配，在此，所述固定装置(14)为所述透平叶片表面(13)的外部形状的阴压印模，-将所述固定装置(14)安置在透平叶片表面(13)上，-连接探头与测量及计算装置(21)，-采用群辐射器超声探测法测量，其中放射超声脉冲信号以及接收源于在缺陷或轮廓形状边界上反射的回波信号，-将回波信号与一个基准回波信号比较，-通过计算回波信号与基准回波信号之间的差别确定缺陷。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||