| 发明名称 | 用于检测触摸表面上的控制路径的角度变化的方法和相应控制模块 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于确定触摸表面上的控制路径的基本角度的方法，其特征在于：在预定持续时间(dT)期间，沿两个垂直轴线(X，Y)测量两个基本位移值(|dX|，|dY|)；所述值(|dX|，|dY|)与参考数据表的基本位移的单位值范围(Xu，Yu)进行比较；代表角度的参考数据被分配给控制轨迹的基本角度(dθ)。本发明还涉及一种用于检测触摸表面上的控制轨迹的角度变化的方法，其特征在于：用于确定控制轨迹的基本角度的前述方法被执行，且在基本步骤期间被分配的基本角度(dθ)被储存；重复基本步骤且分配的基本角度(dθ)被接连地汇集，以确定控制轨迹的角度变化。本发明进一步涉及一种包括触摸表面(1)的控制模块，其特征在于，其包括处理单元，该处理单元用于执行上述用于检测控制轨迹的角度变化的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101903834A | 申请公布日期 | 2010.12.01 |
| 申请号 | CN200880121913.1 | 申请日期 | 2008.12.19 |
| 申请人 | DAV公司 | 发明人 | 布鲁诺·科塔雷尔;弗洛伦特·德沃克斯比顿;塞德里克·查特雷恩 |
| 分类号 | G05B19/042(2006.01)I;G06F3/045(2006.01)I | 主分类号 | G05B19/042(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 葛青 |
| 主权项 | 一种用于确定触摸表面上的控制轨迹的基本角度的方法，其特征在于：在预定持续时间(dT)期间，沿两个垂直轴线(X，Y)测量两个基本位移值(|dX|，|dY|)；所述值(|dX|，|dY|)与参考数据表的基本位移的单位值(Xu，Yu)的区间进行比较；代表角度的参考数据被分配给控制轨迹的基本角度(dθ)。 | ||
| 地址 | 法国克里特尔 | ||