发明名称 |
一种电抗可控芯片测试插座 |
摘要 |
一种电抗可控芯片测试插座,由芯片保持板(2)、接地铜块(3)、探针定位板(6)、探针保持板(7)以及接地弹簧探针(4)与信号/电源弹簧探针(5)所组成。随着集成电路芯片运行速度的日益提高,可以满足测试行业要求芯片测试夹具,应具有更好高频集成信号,使其电抗(或阻抗)在某一特定范围内,以减少电信号通过时的损耗。同时,本实用新型在使用不同芯片(1)的触点分布发生变化时,只需要方便地更换探针定位板(6),其它零件则不要改变,便可满足使用要求,大大提高了测试插座的加工性,降低了成本。 |
申请公布号 |
CN201662582U |
申请公布日期 |
2010.12.01 |
申请号 |
CN200920273281.2 |
申请日期 |
2009.12.11 |
申请人 |
安拓锐高新测试技术(苏州)有限公司 |
发明人 |
陶西昂;潘杰姆;周家春;杨晓勇 |
分类号 |
G01R1/04(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
代理机构 |
苏州市新苏专利事务所有限公司 32221 |
代理人 |
孙莘隆 |
主权项 |
一种电抗可控芯片测试插座,包括有安装在插座上部的芯片保持板(2)和插座底部的探针保持板(7),以及弹簧探针,其特征在于:探针保持板(7)的上部还装有一可活动拆卸的探针定位板(6);而在芯片保持板(2)与探针定位板(6)之间,装配有接地铜块(3);所述弹簧探针,分别有接地弹簧探针(4)和信号/电源弹簧探针(5),分别插入接地铜块(3)相应的孔腔内。 |
地址 |
215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路255号 |