| 发明名称 | 辐射分析装置和辐射分析方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种辐射分析装置，其具有一个第一辐射探测器(15)、一个第二辐射探测器(16)和一个分析装置(17)，其中该分析装置(17)设置用于根据该第一辐射探测器(15)的一个第一信号和该第二辐射探测器(16)的一个第二信号来为照明装置(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)输出一个分析信号。为了识别雾并根据雾来控制汽车照明装置(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)，该第一辐射探测器(15)对高频电磁波敏感，而对低频电磁波不敏感。 | ||
| 申请公布号 | CN101903208A | 申请公布日期 | 2010.12.01 |
| 申请号 | CN200880121933.9 | 申请日期 | 2008.10.31 |
| 申请人 | 罗伯特·博世有限公司 | 发明人 | A·帕克 |
| 分类号 | B60Q1/14(2006.01)I;G01J3/36(2006.01)I;G01J3/44(2006.01)I | 主分类号 | B60Q1/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李少丹;李家麟 |
| 主权项 | 辐射分析装置，具有第一辐射探测器(15)、第二辐射探测器(16)和分析装置(17)，其中该分析装置(12)被设置用于根据该第一辐射探测器(15)的第一信号和该第二辐射探测器(16)的第二信号来为照明装置(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)输出分析信号，其特征在于，该第一辐射探测器(15)对高频电磁波敏感，而对低频电磁波不敏感。 | ||
| 地址 | 德国斯图加特 | ||