| 发明名称 | 低维材料动态拉伸加载测量系统 | ||
| 摘要 | 一种低维材料动态拉伸加载测量系统，属于光测力学、工程材料、力学性能测试技术领域。本发明包括光学测量系统、动态加载装置、压电陶瓷及其控制系统，可以实现高频率加载条件下，各种低维材料动态性能测试。本发明采用压电陶瓷驱动实现高频率的加载，最高频率可达数千赫兹；通过精密加工的位移放大杠杆将压电陶瓷的微小位移放大可以适用于各种刚度材料的测试；采用高分辨数字图像相关测量系统可以测量动态加载条件下试件表面的变形情况。系统使用方便、结构紧凑。 | ||
| 申请公布号 | CN101520387B | 申请公布日期 | 2010.12.01 |
| 申请号 | CN200910131921.0 | 申请日期 | 2009.03.27 |
| 申请人 | 清华大学 | 发明人 | 谢惠民;花韬;张建民 |
| 分类号 | G01N3/08(2006.01)I;G01B11/16(2006.01)I | 主分类号 | G01N3/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人 | 邸更岩 |
| 主权项 | 一种低维材料动态拉伸加载测量系统，其特征为：含有光学显微镜、动态加载装置(1)、压电驱动系统；所述的动态加载装置(1)包括双悬臂杆位移加载机构、拉紧弹簧(10)和试件夹头(11)；所述的压电驱动系统包括压电陶瓷(2)和压电陶瓷控制系统(3)；所述的双悬臂杆位移加载机构为一体式中空结构，双悬臂杆(6)通过连接杆(7)连接，连接杆的中部为一弹性铰链(8)，在双悬臂杆上有外伸的压电陶瓷支座(9)；压电陶瓷(2)放置在压电陶瓷支座上，拉紧弹簧(10)装卡在双悬臂杆靠近压电陶瓷支座的一端，试件夹头(11)装卡在双悬臂杆的另一端，试件(12)粘贴在试件夹头(11)上；整个动态加载装置(1)放置于光学显微镜的载物台上。 | ||
| 地址 | 100084 北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室 | ||