发明名称 P沟道能隙工程硅氧氮氧硅NAND闪存的操作方法
摘要 本发明提供一种P沟道存储器单元的擦除方法,存储器单元包括源极、漏极和栅极,通过施加第一电压于栅极,导致正富勒-诺丁汉电子注入,因此导致存储器单元进入擦除状态。本发明还提供一种P沟道存储器单元的读取方法,存储器单元包括源极、漏极和栅极,通过施加第一电压于源极;施加第二电压于漏极,其中第一电压比第二电压大;根据存储器元件状态的检测结果选择第三电压;并且把第三电压施加于栅极,其中第三电压比第一电压和第二电压大。
申请公布号 CN101067970B 申请公布日期 2010.12.01
申请号 CN200710102192.7 申请日期 2007.04.29
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 吕函庭
分类号 G11C16/10(2006.01)I;H01L27/118(2006.01)I 主分类号 G11C16/10(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 王英
主权项 1.一种P沟道闪速存储器单元的操作方法,所述存储器单元包括栅极、源极、漏极和在所述源极与所述漏极之间的沟道,所述操作方法包括编程方法,所述编程方法包括下列步骤:(a)施加第一电压于所述栅极,以及(b)施加第二电压于所述源极或所述漏极,其中所述第二电压比所述第一电压还大,足以使得在所述沟道中产生负富勒-诺丁汉空穴注入,从而使所述单元进入编程状态。
地址 中国台湾新竹科学工业园区