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发明名称 Verfahren und Mikroskop zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben
摘要
申请公布号 DE102006062823(B4) 申请公布日期 2010.11.25
申请号 DE200610062823 申请日期 2006.03.01
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 发明人 DYBA, MARCUS;GUGEL, HILMAR
分类号 G01N21/64;G02B21/00 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人
主权项
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