发明名称 NDIR-Zweistrahl-Gasanalysator und Verfahren zur Bestimmung der Konzentration einer Messgaskomponente in einem Gasgemisch mittels eines solchen Gasanalysators
摘要 Bei einem NDIR-Zweistrahl-Gasanalysator wird eine Infrarot-Strahlung durch Modulation abwechselnd durch eine Messküvette und eine Referenzküvette geleitet und anschließend unter Erzeugung eines Messsignals detektiert, durch dessen Auswertung die Konzentration einer in der Messküvette enthaltenen Messgaskomponente bestimmt wird. Die Erkennung und Kompensation von Fehlereinflüssen, insbesondere Veränderungen an der Infrarot-Strahlungsquelle oder Detektoranordnung, wird dadurch vereinfacht, dass - eine Phasenimbalance in der Umschaltung der Strahlung zwischen den Küvetten erzeugt wird, - das Messsignal phasensensitiv zur Modulation der Strahlung detektiert wird, wobei ein Messsignalvektor (S) mit einer Amplitudeninformation und einer Phaseninformation (Φ) erhalten wird, - bei der Kalibration des Gasanalysators für verschiedene bekannte Konzentrationen (K, K, K, K, K) der Messgaskomponente Messsignalvektoren (S, S, S, S, S) unterschiedlicher Amplitude und Phase ermittelt werden, die eine Kennlinie (43) definieren, und - bei der Messung einer unbekannten Konzentration der Messgaskomponente aus dem Schnittpunkt (45) eines dabei erhaltenen Messsignalvektors (S) oder seiner Verlängerung mit der Kennlinie (43) die unbekannte Konzentration der Messgaskomponente ermittelt wird.
申请公布号 DE102009021829(A1) 申请公布日期 2010.11.25
申请号 DE200910021829 申请日期 2009.05.19
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BITTER, RALF;HEFFELS, CAMIEL;HOERNER, THOMAS;KIONKE, MARTIN;LUDWIG, MICHAEL
分类号 G01N21/61 主分类号 G01N21/61
代理机构 代理人
主权项
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