发明名称 基于匹配特征点随机生成特征线的伪造印章识别方法
摘要 一种基于匹配特征点随机生成特征线的伪造印章识别方法,包含:离线阶段步骤,在线识别阶段步骤,通过成像装置获取包含待验印章印文的盖印文件图像;待验印章印文图像预处理及待验印章有效印文图像提取;待验印章图像特征点提取步骤;提取待验印章印文图像的特征点,构建包含每个特征点的位置信息及描述符信息的数据库;待验印章与参考印章特征点匹配步骤;基于匹配特征点随机生成可识别的待验印章与参考印章图像特征线步骤;待验印章真伪评价步骤;同一印章在不同情况下盖印得到的印文,同时具备特征点数量及分布一致性和图像信息一致性两个特点。本发明方法具有简单、高效、识别准确率高等特点,对于印章防伪做出了贡献。
申请公布号 CN101894260A 申请公布日期 2010.11.24
申请号 CN201010191308.0 申请日期 2010.06.04
申请人 北京化工大学 发明人 郎海涛;雷兰一菲
分类号 G06K9/20(2006.01)I;G06K9/64(2006.01)I 主分类号 G06K9/20(2006.01)I
代理机构 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人 楼艮基
主权项 1.一种基于匹配特征点随机生成特征线的伪造印章识别方法,其特征在于包含下列步骤:1.1:离线阶段步骤:建立参考印章图像特征点数据库;1.1.1:通过成像装置获取真实印章的印文图像作为参考印文图像,赋予每个参考印文图像一个固定的ID,该ID与特定的真实印章相对应;1.1.2:提取参考印文图像的特征点,构建包含每个特征点的位置信息及描述符信息的数据库;1.2:在线识别阶段步骤:1.2.1:通过成像装置获取包含待验印章印文的盖印文件图像;1.2.2:待验印章印文图像预处理及待验印章有效印文图像提取;1.2.3:待验印章图像特征点提取步骤;提取待验印章印文图像的特征点,构建包含每个特征点的位置信息及描述符信息的数据库;1.2.4:待验印章与参考印章特征点匹配步骤;特征点有特征向量及特征矩阵等两种形式的描述符,对于前者采用欧式距离评价方法进行特征点匹配;若欧式距离最小的和次最小的相比,不大于后者的A%,认为与欧式距离最小的相对应的两个特征向量为匹配特征向量,相应的参考印章图像特征点与待验印章图像特征点为匹配特征点;对于采用特征矩阵作为特征点特征描述符的,由于此类特征矩阵一般为正定矩阵,采用正定矩阵距离评价方法进行特征点匹配;若正定矩阵距离最小的和次最小的相比,不大于后者的A%,认为与正定矩阵距离最小的相对应的两个特征向量为匹配特征向量,相应的参考印章图像特征点与待验印章图像特征点为匹配特征点;待验印章与参考印章特征点匹配完成后,将获得参考图像特征点[P<sub>1</sub> P<sub>2</sub>...P<sub>n</sub>]与待验图像特征点[P<sub>1</sub>′P<sub>2</sub>′...P<sub>n</sub>′]的对应关系,其中n表示匹配特征点的数量;上式表示参考图像特征点P1与待验图像特征点P2’对应,P2与P2’对应,依此类推;1.2.5:基于匹配特征点随机生成可识别的待验印章与参考印章图像特征线步骤;随机选择m对匹配特征点,如[P<sub>1</sub> P<sub>2</sub>...P<sub>m</sub>]和[P<sub>1</sub>′P<sub>2</sub>′...P<sub>m</sub>′],分别在参考印章图像与待验印章图像中生成最多<img file="FSA00000142990200011.GIF" wi="55" he="60" />对可识别特征线,如P<sub>1</sub>P<sub>2</sub>与P<sub>1</sub>′P<sub>2</sub>′,P<sub>1</sub>P<sub>3</sub>与P<sub>1</sub>′P<sub>3</sub>′,…,P<sub>m-1</sub>P<sub>m</sub>与P<sub>m-1</sub>′P<sub>m</sub>′;1.2.6:待验印章与参考印章图像特征线一致性比较步骤;分别提取待验印章与参考印章图像对应的特征线所包含的图像信息,进行一致性比较,根据匹配特征线提取的图像灰度信息,将灰度信息向量化,并对向量归一化后,通过欧式距离评价匹配特征线包含图像信息的一致性;认为欧氏距离小于B的特征线是一致特征线,否则为不一致特征线,记录一致特征线的数量,计算一致性比例系数C;1.2.7:待验印章真伪评价步骤;同一印章在不同情况下盖印得到的印文,同时具备特征点数量及分布一致性和图像信息一致性两个特点。
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