发明名称 热插拔检测控制电路
摘要 热插拔检测控制电路,涉及集成电路技术。本发明包括衬底端都连接到NWELL点的P型MOS管(P1)~(P7),以及N型MOS管(N1)~(N3),一个输入端接输入信号的或非门,构成:用于检测热插拔状态的第一电路(10),连接至第一电路用于防止上拉MOS管(P4)的pn结二极管(52)进入正向偏置状态的第二电路(20),以及连接至第一电路和第二电路用于防止上拉MOS管(P4)在热插拔状态下开启的第三电路(30);本发明的有益效果是,本发明以较简单的结构确保系统在热插拔过程中的安全性,不影响系统的正常工作,有利于芯片的小型化和高度集成。
申请公布号 CN101895279A 申请公布日期 2010.11.24
申请号 CN201010208441.2 申请日期 2010.06.24
申请人 成都华微电子科技有限公司 发明人 孙海;鞠瑜华
分类号 H03K17/08(2006.01)I 主分类号 H03K17/08(2006.01)I
代理机构 成都惠迪专利事务所 51215 代理人 刘勋
主权项 热插拔检测控制电路,其特征在于,包括衬底端都连接到NWELL点的P型MOS管(P1)~(P7),以及N型MOS管(N1)~(N3),一个输入端接输入信号的或非门,构成:用于检测热插拔状态的第一电路(10),连接至第一电路用于防止上拉MOS管(P4)的pn结二极管(52)进入正向偏置状态的第二电路(20),以及连接至第一电路和第二电路用于防止上拉MOS管(P4)在热插拔状态下开启的第三电路(30);其中,第一电路(10)包括串联的P型MOS管(P5)和N型MOS管N3,MOS管(P5)的源极接PAD端,漏极通过N型MOS管(N3)接地,MOS管(P5)和MOS管(N3)的栅极接VCCO,MOS管(P5)的漏极接NOVCCO点;第二电路(20)包括P型MOS管(P1)和P型MOS管(P2),MOS管(P1)的源极接PAD端,漏极接NWELL点,栅极接VCCO,MOS管(P2)的源极接VCCO,漏极接NWELL点,栅极接NOVCCO点;第三电路(30)包括P型MOS管(P3)、(P4)、(P6)、(P7)和N型MOS管(N1)、(N2),以及一个或非门,MOS管(P6)的栅极接NOVCCO点,源极接VCCO,漏极接MOS管(P3)的源极,MOS管(P3)和MOS管(N2)的栅极接或非门的输出端,或非门的一个输入端接NOVCCO点,MOS管(P3)通过MOS管(N2)接地,MOS管(P3)的漏极和MOS管(N2)的漏极接G1点;MOS管(P7)漏极接G1点,栅极接VCCO,源极接PAD端;MOS管(P4)的栅极接G1点,源极接VCCO,漏极接PAD端,PAD端通过N型MOS管(N1)接地,MOS管(N1)的栅极接使能信号。
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