| 发明名称 | 嵌入式系统中的自动再现测试装置及自动再现测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种连接有外部设备(10)的嵌入式系统中的自动再现测试装置，包括：历史存贮单元(信息存贮部20)，该历史存贮单元将嵌入式系统的操作事件、以及包括外部设备的状态变化的事件按照时间序列存贮；以及再现测试单元(再现测试装置2)，该再现测试单元基于来自外部的再现指示，读出历史存贮单元中存贮的内容，按照读出的内容再现嵌入式系统的内部状态，并重复执行规定次数的嵌入式系统的再现测试。 | ||
| 申请公布号 | CN101896888A | 申请公布日期 | 2010.11.24 |
| 申请号 | CN200880120708.3 | 申请日期 | 2008.10.29 |
| 申请人 | 三菱电机株式会社 | 发明人 | 辻堂仁规;内藤教博 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I;G06F11/34(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 侯颖媖;胡烨 |
| 主权项 | 一种嵌入式系统中的自动再现测试装置，是连接有外部设备的嵌入式系统中的自动再现测试装置，其特征在于，包括：历史存贮单元，该历史存贮单元将所述嵌入式系统的操作事件、以及包括所述外部设备的状态变化的事件按照时间序列存贮；以及再现测试单元，该再现测试单元基于来自外部的再现指示，读出所述历史存贮单元中存贮的内容，按照所述读出的内容再现所述嵌入式系统的系统状态，并重复执行规定次数的所述嵌入式系统的再现测试。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||