发明名称 等离子体处理装置和等离子体处理装置用的电极
摘要 本发明涉及等离子体处理装置和等离子体处理装置用的电极,对生成等离子体所消耗的高频的电场强度分布进行控制。等离子体蚀刻装置(10)具有:在内部对晶片(W)进行等离子体处理的处理容器(100);上部电极(105)和下部电极(110),在处理容器(100)的内部相互相对,且在它们之间形成处理空间;以及高频电源(150),其与上部电极(105)和下部电极(110)中的至少一个连接,向处理容器(100)的内部输出高频电力。上部电极(105)和下部电极(110)的至少一个包括:由板状的电介质形成基材(105a);具有开口部、且覆盖基材(105a)的导电性盖(105b);和设置在基材(105a)与等离子体之间的金属的第一电阻体(105d)。
申请公布号 CN101896033A 申请公布日期 2010.11.24
申请号 CN201010129374.5 申请日期 2010.03.05
申请人 东京毅力科创株式会社 发明人 桧森慎司;林大辅
分类号 H05H1/46(2006.01)I;H01J37/04(2006.01)I;H01J37/30(2006.01)I 主分类号 H05H1/46(2006.01)I
代理机构 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人 龙淳
主权项 一种等离子体处理装置,包括:处理容器,其在内部对被处理体进行等离子体处理;第一电极和第二电极,其在所述处理容器的内部相互相对,且在它们之间形成处理空间;和高频电源,其与所述第一电极和所述第二电极中的至少一个连接,向所述处理容器内输出高频电力,该等离子体处理装置的特征在于:所述第一电极和所述第二电极中的至少一个包括:由板状的电介质形成的基材;和在所述基材与等离子体之间设置的金属的第一电阻体。
地址 日本东京都