测试装置

摘要

本实用新型提供一种测试装置，用于测试无功能芯片的转接卡。转接卡具有待测接口和输出接口。测试装置包括控制元件和转档元件。控制元件电性连接转接卡。控制元件发出测试信号至待测接口，并从输出接口接收输出信号。控制元件判断输出信号与测试信号是否一致，据此产生测试结果。转档元件电性连接控制元件以接收测试结果并提供转档信息。本实用新型优点是：通过判断输出信号与测试信号是否一致从而测试无功能芯片的转接卡的待测接口是否良好，相较于先前技术，本实用新型提供的测试装置测试工时短、操作简单，并且转档元件对测试结果可实现自动转档，使用者通过转档信息即可知道测试结果，从而便于产线上的管理。

主权项

一种测试装置，用于测试无功能芯片的转接卡，所述转接卡具有待测接口和输出接口，其特征是，所述测试装置包括：控制元件，电性连接所述转接卡，所述控制元件发出测试信号至所述待测接口，并从所述输出接口接收输出信号，所述控制元件判断所述输出信号与所述测试信号是否一致，据此产生测试结果；以及转档元件，电性连接所述控制元件以接收所述测试结果并提供转档信息。