发明名称 基于外部延时技术的等效采样示波器
摘要 本实用新型涉及示波器设计技术领域,尤其涉及一种基于外部延时技术的等效采样示波器。本实用新型包括微控制系统、测量电路、外部延时模块,所述微控制系统与测量电路直接电连接,所述微控制系统同时连接外部延时模块;所述微控制系统包括单片机、FPGA芯片、LCD液晶显示器,单片机与FPGA芯片双向电相连,FPGA芯片同时连接LCD液晶显示器;所述测量电路包括信号调理电路、A/D采样器和整形电路。本实用新型结构简单实用,使用方便,而且可以根据外部延时器的不同,进一步减短延时时间提高等效采样频率,实现了快速,高效,高精度测量,提高了等效采样的采样速率,增强了示波器的性能。
申请公布号 CN201654096U 申请公布日期 2010.11.24
申请号 CN201020166870.3 申请日期 2010.04.16
申请人 武汉大学 发明人 杨静竹;刘思勤;徐安莹;姜帅;陶启成
分类号 G01R13/02(2006.01)I 主分类号 G01R13/02(2006.01)I
代理机构 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人 张火春;许莲英
主权项 一种基于外部延时技术的等效采样示波器,其特征在于,包括:微控制系统(101、102、103)、测量电路(104、105、106)、外部延时模块(107),所述微控制系统(101、102、103)与测量电路(104、105、106)直接电连接,所述微控制系统(101、102、103)同时连接外部延时模块(107);所述微控制系统(101、102、103)包括单片机(101)、FPGA芯片(102)、LCD液晶显示器(103),单片机(101)与FPGA芯片(102)双向电相连,FPGA芯片(102)同时连接LCD液晶显示器(103);所述测量电路(104、105、106)包括信号调理电路(104)、A/D采样器(105)和整形电路(106);所述信号调理电路(104)的输入端连接信号入口,信号调理电路(104)的输出端分两路,一路连接A/D采样器(105),一路连接整形电路(106);A/D采样器(105)和整形电路(106)分别与FPGA芯片(102)电连接。
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