发明名称 一种基于合成波长的激光波长测量装置
摘要 本实用新型公开了一种基于合成波长的激光波长测量装置。选用一个波长稳定度较高的激光器作为参考激光器,参考激光器的光束和待测激光器的光束被调制为正交线偏振光后,入射同一迈克尔逊干涉仪,分别形成各自的干涉信号。当迈克尔逊干涉仪中的测量臂移动时,参考光和待测光的干涉信号的相位关系将发生变化,当这两路干涉信号的相位差变化2π时对应于测量臂移动半个由参考光和待测光形成的合成波长的位移。通过检测两路干涉信号两次同时过零点位置便可测得合成波长值,根据待测激光波长和参考激光波长与合成波长之间的关系,即可得到待测激光的波长值。本实用新型具有较强的环境抗干扰能力,波长测量精度可以达到10-8以上,成本低,易于实用化。
申请公布号 CN201637492U 申请公布日期 2010.11.17
申请号 CN201020151139.3 申请日期 2010.04.02
申请人 浙江理工大学 发明人 陈本永;严利平;杨涛;李超荣;唐为华
分类号 G01J9/02(2006.01)I 主分类号 G01J9/02(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 林怀禹
主权项 一种基于合成波长的激光波长测量装置,其特征在于:参考激光器(1)输出的光束经过透振方向平行于纸面的第一检偏器(2)后成为平行于纸面的线偏振光λR,射向第一偏振分光镜(6);待测激光器(3)输出的光束经过透振方向垂直于纸面的第二检偏器(4)后成为垂直于纸面的线偏振光λU,经反射镜(5)反射后射向第一偏振分光镜(6);线偏振光λR透过第一偏振分光镜(6)后和线偏振光λU经第一偏振分光镜(6)反射后,合成一束正交线偏振光,入射到由分光镜(8)、第一角锥棱镜(7)和第二角锥棱镜(9)组成的迈克尔逊干涉仪,形成各自的干涉信号,经第二偏振分光镜(10)分光后,分别由第一探测器(11)和第二探测器(12)接收;通过检测两路干涉信号两次同时过零点位置便能测得合成波长值,根据待测激光波长和参考激光波长与合成波长之间的关系,即能得到待测激光的波长值。
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