检测IC测试治具的检测物结构

摘要

本实用新型公开了一种检测IC测试治具的检测物结构，其包含一基片以及数连伸于基片周侧的侦测脚。其中侦测脚的末端是接触于探针的接触段；因此治具未测试IC之前，便可透过检测物通电接触于探针，信号流通于探针、侦测脚、基片的导电通路循环是否正常而无阻断，如此进一步配合电脑程式判读何处探针是否不良，据以预先排除障碍，以获得治具测试IC的结果是准确可信。

主权项

一种检测IC测试治具的检测物结构，其特征在于：它包含：一基片，于外侧一体连伸数侦测脚，该基片及该侦测脚均为可导电材，该侦测脚相对该基片朝一侧延伸的末端是接触段，该接触段接触IC测试治具的探针。