用来检测发光二极管晶粒外观的检测装置

摘要

本实用新型公开了一种用来检测发光二极管晶粒外观的检测装置，其包括：一检测平台，具有一可移动的中空平台，一具有多个发光二极管晶粒的晶圆置放于中空平台上；一分光镜，设置于检测平台的上方；一第一光源，设置于分光镜的一侧，第一光源所产生的第一光束投向分光镜，以产生一投向发光二极管晶粒的上表面的第二光束，并且第二光束通过发光二极管晶粒的上表面而被反射成一向上投射的第三光束；一影像感测元件，设置于分光镜的上方，以接收经过分光镜的第三光束，进而得到每一个发光二极管晶粒的上表面的影像。本实用新型可免除人工作业及墨水浪费以使得制造成本降低及效率提高，更能通过电脑来计算出不良发光二极管晶片的数量及区域。

主权项

一种用来检测发光二极管晶粒外观的检测装置，其特征在于，包括：一检测平台，其具有一可移动的中空平台，其中一具有多个发光二极管晶粒的晶圆置放于该检测平台的中空平台上；一分光镜，其设置于该检测平台的上方；一可随着所述发光二极管晶粒的类型来调整发光波长的第一光源，其设置于该分光镜的一侧，其中该第一光源所产生的第一光束投向该分光镜，以产生一投向所述发光二极管晶粒的上表面的第二光束，并且该第二光束通过所述发光二极管晶粒的上表面而被反射成一向上投射的第三光束；以及一影像感测元件，其设置于该分光镜的上方，以接收经过该分光镜的第三光束，进而得到每一个发光二极管晶粒的上表面的影像。