发明名称 | 测试装置及校准方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种测试被测试器件的测试装置,包括多个信号生成部和判断被测试器件好坏的判断部,各个信号生成部具有:驱动部,将测试信号提供给被测试器件的对应管脚;电压测定部,根据被测试器件对应测试信号输出的信号,检出驱动部输出的信号的直流电压;输出侧调整部,根据电压测定部检出的直流电压,调整驱动部输出的信号的占空比。当向被测试器件提供规定的电流时,各个电平测定部被设定为可测定被测试器件上外加的电压电平。 | ||
申请公布号 | CN101889212A | 申请公布日期 | 2010.11.17 |
申请号 | CN200880119492.9 | 申请日期 | 2008.12.03 |
申请人 | 爱德万测试株式会社 | 发明人 | 泷泽茂树 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人 | 齐永红 |
主权项 | 一种用于测试被测试器件的测试装置,其特征在于所述测试装置包括:驱动部,将测试信号提供给所述被测试器件的对应管脚;判断部,根据所述被测试器件对输出的与上述测试信号相对应的应答信号,判定所述被测试器件的好坏;电平测定部,用于检测所述驱动部输出的信号的直流电平;输出侧调整部,根据所述电平测定部检测出的所述直流电平,调整所述驱动部输出的信号的占空比。 | ||
地址 | 日本东京都 |