| 发明名称 | 测试系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种测试系统，包括相互连接的集成电路测试仪和数据处理装置，还包括与数据处理装置连接的电压测量模块；数据处理装置控制集成电路测试仪和电压测量模块对待测器件进行测试；集成电路测试仪为待测器件提供测试条件，包括施加一定的电压、电流，并测量待测器件的电流、频率以及精确度要求≥1毫伏的电压参数；电压测量模块测量待测器件的测量精确度要求＜1毫伏的电压参数。上述测试系统在传统的集成电路测试仪上外挂一个高精确度的电压测量模块，提升了测试系统测量电压的精确度。 | ||
| 申请公布号 | CN201637817U | 申请公布日期 | 2010.11.17 |
| 申请号 | CN201020148359.0 | 申请日期 | 2010.03.25 |
| 申请人 | 华润赛美科微电子(深圳)有限公司 | 发明人 | 顾汉玉 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R19/25(2006.01)I;G01R15/12(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 何平 |
| 主权项 | 一种测试系统，包括相互连接的集成电路测试仪和数据处理装置，其特征在于，还包括与数据处理装置连接的电压测量模块；所述数据处理装置控制集成电路测试仪和电压测量模块对待测器件进行测试；所述集成电路测试仪为待测器件提供测试条件，包括施加一定的电压、电流，并测量待测器件的电流、频率以及精确度要求≥1毫伏的电压参数；所述电压测量模块测量待测器件的测量精确度要求＜1毫伏的电压参数。 | ||
| 地址 | 518116 广东省深圳市龙岗区宝龙工业区宝龙五路5号 | ||