METHOD OF X-RAY REFLECTANCE MEASUREMENT,申请号KR20050023369-传众专利搜索

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发明名称	METHOD OF X-RAY REFLECTANCE MEASUREMENT
摘要
申请公布号	KR100994253(B1)	申请公布日期	2010.11.12
申请号	KR20050023369	申请日期	2005.03.21
申请人		发明人
分类号	G01N23/20;G01N23/201;G01N23/207;G01T1/24;G21K5/02	主分类号	G01N23/20
代理机构		代理人
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