| 主权项 |
一种测试装置，用于测试受测记忆体，所述受测记忆体用于储存错误校正码已被添加之资料串，所述测试装置包括：逻辑比较器，其用于比较自所述受测记忆体中所读出之所述资料串中所含有之每一资料与预先产生之预期值；资料错误计数区段，其用于计数与所述预期值不一致之资料的数目；多个暂存器，其是对应于多个类别中之每一者而得以提供，用于储存待分类成所述类别之所述受测记忆体的所述资料串中所含有之错误之数目的上限值；比较区段，其用于比较所述多个暂存器中所储存之所述多个上限值中之每一者与所述资料错误计数区段的所述计数值；以及分类区段，其用于将所述受测记忆体分类成对应于储存大于所述计数值之所述上限值之所述暂存器的所述类别；其中，所述逻辑比较器比较自所述受测记忆体中所输出之在每一循环中包含多个位元的资料与预先经设定之逻辑值，为了所述多个位元的每一者；且所述测试装置更包括时序侦测区段，其用于侦测一时序，所述时序是所述位元的值基于一比率而改变时的时序，所述比率是所述位元的值的每一者与预先设定之所述逻辑值的每一者一致时的次数、和已将所述位元的值与预先设定之所述逻辑值比较时的次数之比率；且当所述计数值超过所述上限值时，所述分类区段侦测所述受测记忆体之一故障，所述上限值为藉由所述错误校正码可校正之所述资料串中之错误的最大数目。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中，所述资料错误计数区段对于所述资料之每一位元计数与所述预期值不一致之错误位元的数目；以及所述比较区段比较所述多个上限值中之每一者、与由所述资料错误计数区段所计数之错误位元的数目的总值。如申请专利范围第1项所述之测试装置，更包括：计数值改变区段，其用于在操作模式中存在与所述预期值不一致之资料时将大于任一上限值之值输出至所述比较区段作为所述计数值，所述操作模式用于在存在与所述预期值不一致之资料时侦测所述受测记忆体之故障。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中，所述受测记忆体具有多个区块，其中每一者含有所述资料串；所述分类区段将所述多个区块中之每一者分类成对应于储存等于或大于所述区块中所含有之错误之数目的所述上限值之所述暂存器之类别；以及所述分类区段在被分类成一类别或被分类成所述上限值大于所述一类别之上限值之另一类别的区块之数目等于或小于预先设定之上限值的条件下亦将所述受测记忆体分类成一类别。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中，当所述计数值超过在所述多个暂存器中之预定暂存器中所储存之所述上限值时，所述分类区段侦测所述受测记忆体之故障。如申请专利范围第5项所述之测试装置，其中，在所述受测记忆体具有用于储存错误校正码已被添加至之资料串的第一储存区域以及用于储存无错误校正码被添加至之资料串的第二储存区域之情况下，所述分类区段对应于自所述第一储存区域中所读出之所述资料串的所述计数值来分类所述受测记忆体，且当所述资料串中所含有之至少一资料与关于自所述第二储存区域中所读出之所述资料串的所述预期值不一致时，侦测所述受测记忆体之故障。如申请专利范围第5项所述之测试装置，其中所述逻辑比较器按序比较所述资料串中所含有之所述资料中的每一者与自所述受测记忆体之不同储存区域中所读出之所述多个资料串中之每一者的所述预期值；所述资料错误计数区段在每当针对所述资料串中之每一者而侦测与所述预期值不一致的所述资料时递增所述计数值；以及所述分类区段在所述资料错误计数区段之所述计数值超过所述上限值时侦测所述受测记忆体之故障；以及所述测试装置更包括测试处理区段，其用于初始化所述计数值，且当完成所述资料串中之一者之故障的侦测时，导致所述逻辑比较器开始下一资料串与所述预期值之比较。一种用于测试受测记忆体的测试方法，所述受测记忆体用于储存错误校正码已被添加之资料串，所述测试方法包括下列步骤：比较自所述受测记忆体中所读出之所述资料串中所含有之每一资料与预先产生之预期值；计数与所述预期值不一致之所述资料的数目；对应于多个类别中之每一者而储存待分类成所述类别之所述受测记忆体的所述资料串中所含有之错误之数目的上限值；比较所述多个储存上限值中之每一者与所述计数值；以及将所述受测记忆体分类成对应于储存等于或大于所述计数值之所述上限值之暂存器的类别；其中，在所述受测记忆体具有用于储存错误校正码已被添加至之资料串的第一储存区域以及用于储存无错误校正码被添加至之资料串的第二储存区域之情况下，所述分类包括：对应于自所述第一储存区域中所读出之所述资料串的所述计数值来分类所述受测记忆体，且当所述资料串中所含有之至少一资料与关于自所述第二储存区域中所读出之所述资料串的所述预期值不一致时，侦测所述受测记忆体之故障。 |
