发明名称 Verfahren zur Herstellung einer kapazitiven Struktur
摘要 Beschrieben wird ein Verfahren zur Herstellung einer kapazitiven Struktur, das aufweist: Bereitstellen einer Trägerschicht (11), die eine Oberfläche (101) aufweist; Herstellen einer ersten Dielektrikumsschicht (21) auf der Oberfläche (101); Herstellen einer Siliziumschicht (12), die Siliziumkörner aufweist, auf der ersten Dielektrikumsschicht (21) unter Verwendung eines Abscheideprozesses; Herstellen einer zweiten Dielektrikumsschicht (31) auf der Siliziumschicht (12); Herstellen einer Schicht (41) eines elektrisch leitenden Materials auf der zweiten Dielektrikumsschicht (31); und Durchführen eines Temperaturprozesses zum Aufheizen wenigstens der ersten Dielektrikumsschicht (21), wobei die Temperatur und die Dauer des Temperaturprozesses so gewählt sind, dass die erste Dielektrikumsschicht (21) derart modifiziert wird, dass die Siliziumschicht (12) elektrisch mit der Trägerschicht (11) verbunden ist.
申请公布号 DE102010028215(A1) 申请公布日期 2010.11.11
申请号 DE201010028215 申请日期 2010.04.26
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SEDLMAIER, STEFAN;LEHNERT, WOLFGANG;PRUEGL, KLEMENS
分类号 H01L21/8242;H01L21/822;H01L27/06;H01L27/08 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人
主权项
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