发明名称 Method and system for performing automatic test in embedded platform
摘要
申请公布号 KR100992622(B1) 申请公布日期 2010.11.05
申请号 KR20080101992 申请日期 2008.10.17
申请人 发明人
分类号 G06F11/26;G06F11/36 主分类号 G06F11/26
代理机构 代理人
主权项
地址