| 发明名称 | 测量电致自旋荧光的显微测量系统 | ||
| 摘要 | 本发明一种测量电致自旋荧光的显微测量系统，其特征在于，包括：一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片，所述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距离，且位于同一光路上；一磁体系统；一数字电压源表，该数字电压源表与磁体系统并联；一超长工作距离显微物镜，该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分之一波片和磁体系统之间，且在同一光路上。 | ||
| 申请公布号 | CN101581672B | 申请公布日期 | 2010.11.03 |
| 申请号 | CN200810106706.0 | 申请日期 | 2008.05.14 |
| 申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 肖文波;郑厚植;徐萍;鲁军;刘剑;李桂荣;谭平恒;赵建华;章昊;朱汇;甘华东;李蕴慧;朱科;吴昊;张泉;袁思芃;罗晶;申超;李科 |
| 分类号 | G01N21/66(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/66(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 汤保平 |
| 主权项 | 一种测量电致自旋荧光的显微测量系统，其特征在于，包括：一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片，所述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距离，且位于同一光路上；一磁体系统；一数字电压源表，该数字电压源表与磁体系统并联；一超长工作距离显微物镜，该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分之一波片和磁体系统之间，且在同一光路上；宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片光轴之间成45度夹角，使得圆偏振光通过宽波段四分之一波片后的线偏振光可以用宽波段线偏振片检偏。 | ||
| 地址 | 100083 北京市海淀区清华东路甲35号 | ||