发明名称 |
一种用于振动计量的低噪声外差激光干涉仪 |
摘要 |
本实用新型公开了一种用于振动计量的低噪声外差激光干涉仪,包括激光器、第一分光器、第一反射镜、第二反射镜、声光调制器、第二分光器、1/4波片和探测器,激光器发出的激光经第一分光器分光,透射光依次经过第一反射镜反射、第二分光器透射后作为参考光,进入探测器;激光经第一分光器的反射光依次经过第二反射镜、声光调制器调制、第二分光器后作为测量光,并经1/4波片后用来测量被测物体,被测物体漫反射的反射光返回依次经1/4波片、第二分光器反射后形成有效测量光进入探测器,与参考光干涉。本实用新型解决了当被测物体处于漫反射状态时,在增大有效测量光的同时,减少返回到激光腔的反射光,从而降低光电信号的本底噪声,提高信噪比和测量精度,确保系统稳定。 |
申请公布号 |
CN201622111U |
申请公布日期 |
2010.11.03 |
申请号 |
CN201020134455.X |
申请日期 |
2010.03.15 |
申请人 |
中国计量科学研究院 |
发明人 |
左爱斌;于梅 |
分类号 |
G01H9/00(2006.01)I;G01B9/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01H9/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 |
代理人 |
尹振启 |
主权项 |
一种用于振动计量的低噪声外差激光干涉仪,其特征在于,该干涉仪包括激光器、第一分光器、第一反射镜、第二反射镜、声光调制器、第二分光器、1/4波片和探测器,激光器发出的激光经第一分光器分光,透射光依次经过第一反射镜反射、第二分光器透射后作为参考光,进入探测器;激光经第一分光器的反射光依次经过第二反射镜、声光调制器调制、第二分光器后作为测量光,并经1/4波片后用来测量被测物体,被测物体漫反射的反射光返回依次经1/4波片、第二分光器反射后形成有效测量光进入探测器,与参考光干涉。 |
地址 |
100013 北京市北三环东路18号 |