发明名称 一种颗粒表面摩擦系数的测量装置
摘要 本发明涉及一种颗粒表面摩擦系数的测量装置,特别涉及一种球形颗粒表面摩擦系数的测量装置,属于测量技术领域。该装置包括水平连杆、正压力传感器、正压力调节螺钉、竖直连杆、支架、传动轴支架、传动轴、滑轮、摩擦力传感器、电路系统、计算机和待测颗粒,竖直连杆与水平连杆所在的水平面垂直;竖直连杆与传动轴固定连接,水平连杆的一端与正压力传感器弹性连接,另一端粘贴待测颗粒,待测颗粒的球心位于同一个水平面内;滑轮与摩擦力传感器通过细线相连。本发明可测定颗粒表面的最大静摩擦系数和滑动摩擦系数,尤其是可测量直径小于10mm的颗粒表面的最大静摩擦系数和滑动摩擦系数;本发明的操作简单、方便,测量过程快捷、准确。
申请公布号 CN101876625A 申请公布日期 2010.11.03
申请号 CN200910238033.9 申请日期 2009.11.20
申请人 北京理工大学 发明人 鲁长宏;史庆藩;孙刚
分类号 G01N19/02(2006.01)I 主分类号 G01N19/02(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 付雷杰;郭德忠
主权项 一种颗粒表面摩擦系数的测量装置,该装置包括水平连杆A(1)、水平连杆B(2)、水平连杆C(3)、正压力传感器A(4)、正压力传感器B(5)、正压力传感器C(6)、正压力调节螺钉A(7)、正压力调节螺钉B(8)、正压力调节螺钉C(9)、竖直连杆(10)、支架(11)、传动轴支架(12)、传动轴(13)、滑轮(14)、摩擦力传感器(15)、电路系统(16)、计算机(17)、待测颗粒A(18)、待测颗粒B(19)、待测颗粒C(20)和待测颗粒D(21),其中支架(11)包括一个固定环(22)、支撑柱A(23)、支撑柱B(24)、支撑柱C(25)和底座(26),支撑柱A(23)上固定连接有辅助支撑杆A(27)、支撑柱B(24)上固定连接有辅助支撑杆B(28)、支撑柱C(25)上固定连接有辅助支撑杆C(29);其特征在于:固定环(22)通过支撑柱A(23)、支撑柱B(24)、支撑柱C(25)固定在底座(26)上,辅助支撑杆A(27)、辅助支撑杆B(28)和辅助支撑杆C(29)与传动轴支架(12)固定连接用于将传动轴支架(12)与支架(11)固定在一起;正压力传感器A(4)、正压力传感器B(5)、正压力传感器B(6)通过螺纹固定在固定环22上;滑轮14和传动轴(13)紧固连接,摩擦力传感器(15)固定在底座上;水平连杆A(1)、水平连杆B(2)和水平连杆C(3)通过螺钉固定在固定环(22)上,滑轮(14)和摩擦力传感器(15)在底座上;水平连杆A(1)、水平连杆B(2)和水平连杆C(3)在同一水平面内,竖直连杆(10)与三个水平连杆所在的水平面垂直;竖直连杆(10)的一端与传动轴(13)同轴固定连接,传动轴(13)通过轴承固定在传动轴支架(12)的内部;水平连杆A(1)的一端与正压力传感器A(4)弹性连接,水平连杆B(2)的一端与正压力传感器B(5)弹性连接,水平连杆C(3)的一端与正压力传感器C(6)弹性连接,正压力传感器A(4)与正压力调节螺钉A(7)固定连接,正压力传感器B(5)与正压力调节螺钉B(8)固定连接,正压力传感器C(6)与正压力调节螺钉C(9)固定连接,水平连杆A(1)的另一端粘贴待测颗粒A(18),水平连杆B(2)的另一端粘贴待测颗粒B(19),水平连杆C(3)的另一端粘贴待测颗粒C(20),竖直连杆4的另一端粘贴待测颗粒D(21),待测颗粒A(18)的球心、待测颗粒B(19)的球心、待测颗粒C(20)的球心和待测颗粒D(21)的球心位于一个水平面内;水平连杆A(1)、正压力传感器A(4)及调节螺钉A7位于同一直线上,水平连杆B(2)、正压力传感器B(5)及调节螺钉B8位于同一直线上,水平连杆C(3)、正压力传感器C(6)及调节螺钉C9位于同一直线上;待测颗粒A(18)、待测颗粒B(19)和待测颗粒C(20)挤压待测颗粒D(21);滑轮(14)与传动轴(13)紧固连接并在传动轴(13)的下方,滑轮(14)与摩擦力传感器(15)通过细线相连;正压力传感器A(4)、正压力传感器B(5)、正压力传感器C(6)和摩擦力传感器(15)通过数据线与电路系统(16)相连,电路系统(16)通过数据线与计算机(17)相连;电路系统(16)负责采集并处理从正压力传感器A(4)、正压力传感器B(5)、正压力传感器C(6)和摩擦力传感器(15)输出的数据,并将这些数据传送给计算机(17),计算机(17)中的数据处理软件对接收到得数据进行处理,得到待测颗粒表面的摩擦系数。
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