发明名称 戴奥辛类之免疫测定用标准品及戴奥辛类之免疫测定法
摘要
申请公布号 TWI332492 申请公布日期 2010.11.01
申请号 TW092122316 申请日期 2003.08.14
申请人 东洋纺绩股份有限公司 日本;塔克马股份有限公司 日本 发明人 西井重明;松井一裕;石桥卓也;冈正则;藤平弘树;三嶋弘次;片冈静夫
分类号 C07C235/20 主分类号 C07C235/20
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 一种如下一般式(1)所示化合物之用途,其系作为戴奥辛类之免疫测定用标准品,@sIMGTIF!d10014.TIF@eIMG!(式中,R1、R2、R3、R4为相同或不同的氯原子或氢原子,n为1~10的整数,Z为胺基酸残基或胜肽)。一种戴奥辛类免疫测定用之套组,其含有如下一般式(1)所示化合物作为免疫测定用标准品,@sIMGTIF!d10015.TIF@eIMG!(式中,R1、R2、R3、R4为相同或不同的氯原子或氢原子,n为1~10的整数,Z为胺基酸残基或胜肽)。如申请专利范围第2项之套组,其更进一步含有抗戴奥辛抗体。如申请专利范围第2或3项之套组,其更进一步含有竞争用抗原。一种使用如下一般式(1)所示化合物作为戴奥辛类之免疫测定用标准品之方法,其为计算受验试料中的戴奥辛类浓度或进一步的毒性等量之免疫测定之方法,@sIMGTIF!d10016.TIF@eIMG!(式中,R1、R2、R3、R4为相同或不同的氯原子或氢原子,n为1~10的整数,Z为胺基酸残基或胜肽)。如申请专利范围第5项之方法,其中免疫测定法系选自酵素免疫测定法、放射性免疫测定法以及萤光免疫测定法之方法。一种戴奥辛类免疫测定之方法,包括(1)使受验试料与抗戴奥辛抗体反应,测定抗原抗体反应量之步骤,以及(2)使已知浓度之如下一般式(I)所示之免疫测定用标准品与抗戴奥辛抗体反应所得之抗原抗体反应量与步骤(1)之抗原抗体反应量比较,算出受验试料中所含之戴奥辛类浓度之步骤,@sIMGTIF!d10017.TIF@eIMG!(式中,R1、R2、R3、R4为相同或不同的氯原子或氢原子,n为1~10的整数,Z为胺基酸残基或胜肽)。如申请专利范围第7项之方法,其系以选自酵素免疫测定法、放射性免疫测定法以及萤光免疫测定法之方法测定抗原抗体反应量。
地址 日本;日本