发明名称 柔性电路电镀表面抑制晶须工艺
摘要 本发明公开了一种柔性电路电镀表面抑制晶须工艺,它是在传统工艺的电镀步骤之后增加了酸洗、机械磨刷、老化处理等步骤。所采用的机械磨刷可有效机械破坏原镀层金属结构,达到破坏晶须生长的条件,杜绝晶须生长,使柔性电路产品达到对长期可靠性的要求。本发明工艺的实施,消除了以往无铅电镀技术上,难以克服晶须生长的问题,找到了一种投资少、工艺控制简单、抑制晶须生长效果明显的方法,使这一行业有了电镀作业性良好、成本低廉的新工艺。为精细线路加工的电镀产品的长期可靠性,提供了根本保证。
申请公布号 CN101575721B 申请公布日期 2010.10.27
申请号 CN200910111939.4 申请日期 2009.05.27
申请人 厦门华天华电子有限公司 发明人 李敏
分类号 C25D5/48(2006.01)I;C25D5/50(2006.01)I;C23G1/02(2006.01)I 主分类号 C25D5/48(2006.01)I
代理机构 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 代理人 许伟
主权项 一种柔性电路电镀表面抑制晶须工艺,其工艺步骤主要包括:下料、贴感光膜、蚀刻、贴正反面膜、表面蚀刻处理、电镀、性能测试;其特征在于:在电镀步骤之后还包括酸洗、机械磨刷、老化处理步骤;所述的酸洗步骤为:在1%-2%的硫酸溶液槽中,在温度25-35℃、传输速度2-2.5米/分条件下喷淋,清水清洗;所述的机械磨刷步骤为:在1000或1200目的氧化铝刷辊上、传输速度1.5-2.0米/分、刷辊转速为1200-1400转/分条件下进行磨刷;所述的老化处理步骤为:将产品分层放在烘箱中,保证受热温度均匀,在温度145--155℃的条件下,受热120--150分钟,进行处理。
地址 361006 福建省厦门市火炬高新区火炬园光业楼西四层
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