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Método para la medición capacitiva sin contacto del espesor de un material plano (10) que se sitúa en el campo marginal (32) de un condensador (C1, C2), con una medición simultánea de la anchura L de una separación (16) de aire entre el material plano y las placas del condensador, caracterizado porque se miden las capacidades gL, kL de dos condensadores (C1, C2), cuyos campos marginales (32) se atenúan con ritmos diferentes hacia el material plano (10), y porque tanto el espesor D del material plano (10) como la anchura L de la separación (16) de aire se determinan sobre la base de la condición de que, para cada condensador (C1, C2), la capacidad medida (gL, kL) es igual a la integral del gradiente de capacidad (g', k') conocido respectivo con respecto al espesor del material plano (10).
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