发明名称 |
化学机械抛光液和抛光方法 |
摘要 |
本发明公开了一种化学机械抛光液,包括液体,液体中分布有复合磨粒,所述复合磨粒由大颗粒磁性聚合物粒子外面依附小粒径磨料构成,所述磁性聚合物粒子由聚合物材料包裹磁性材料构成。还公开了一种化学机械抛光方法,采用如上所述的化学机械抛光液,利用辅助磁场将复合磨粒把持在软质抛光垫或者硬质抛光器表面,对抛光材料的被抛光面进行抛光。本技术方案在对半导体基片、氧化物和金属等材料以及半导体部件制程中Cu/低k介质等进行化学机械抛光时,可以提高抛光速率,控制并减小抛光面塌边,提高抛光工件的金属表面质量。 |
申请公布号 |
CN101870851A |
申请公布日期 |
2010.10.27 |
申请号 |
CN201010189611.7 |
申请日期 |
2010.06.02 |
申请人 |
浙江工业大学 |
发明人 |
许雪峰;彭伟;姚春燕;胡建德 |
分类号 |
C09G1/02(2006.01)I;B24B29/00(2006.01)I |
主分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
代理机构 |
杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 |
代理人 |
王晓峰 |
主权项 |
一种化学机械抛光液,包括液体,液体中分布有复合磨粒,其特征在于,所述复合磨粒由大颗粒磁性聚合物粒子外面依附小粒径磨料构成,所述磁性聚合物粒子由聚合物材料包裹磁性材料构成。 |
地址 |
310014 浙江省杭州市潮王路18号 |