发明名称 次声波检测装置及次声波检测方法
摘要 本发明涉及一种次声波检测装置,包括一激光器和一振膜单缝装置。该激光器用以产生一激光光束。该振膜单缝装置,包括两个刀片和一灵敏膜片。两个刀片设置在同一平面上并相互分离形成一单缝;其中一刀片设置在灵敏膜片的形变区域上。灵敏膜片设于次声波区域内。该激光光束通过该单缝并产生单缝衍射条纹。当有次声波使灵敏膜片产生振动而引起刀片的微振,从而改变所述单缝的缝宽,进而使所述单缝衍射条纹产生变化。本发明的次声波检测装置利用光束的单缝衍射条纹检测次声波,整体结构简单,对器件的加工精度要求不高,制作成本低且易于实现。
申请公布号 CN101871807A 申请公布日期 2010.10.27
申请号 CN201010151990.0 申请日期 2010.04.16
申请人 华南师范大学 发明人 唐小煜;黄佐华;林丽芬;沈娴;吴丽菲
分类号 G01H9/00(2006.01)I 主分类号 G01H9/00(2006.01)I
代理机构 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人 李国钊
主权项 一种次声波检测装置,其特征在于:包括一激光器,用以产生一激光光束;及一振膜单缝装置,包括两个刀片和一灵敏膜片;所述两个刀片设置在同一平面上并相互分离形成一单缝;其中一刀片设置在所述灵敏膜片的形变区域上;所述灵敏膜片设于次声波区域内;所述激光光束通过该单缝并产生单缝衍射条纹;当有次声波使灵敏膜片产生振动而引起刀片的微振,从而改变所述单缝的缝宽,进而使所述单缝衍射条纹产生变化。
地址 510631 广东省广州市天河区中山大道西55号
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