发明名称 画素结构及其修补方法
摘要
申请公布号 TWI332109 申请公布日期 2010.10.21
申请号 TW095112822 申请日期 2006.04.11
申请人 中华映管股份有限公司 发明人 戴孟杰;王明宗;张明瑄;柳智忠
分类号 G02F1/1345 主分类号 G02F1/1345
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 一种画素结构,包括:一扫描线;一闸极,与该扫描线电性连接,且该闸极具有一第一封闭开口;一第一介电层,覆盖该扫描线与该闸极;一通道层,配置于该闸极上方的该第一介电层上,且该通道层暴露出该第一封闭开口;一源极与一汲极,配置在该通道层上,其中部分该汲极位于该第一封闭开口上方;一资料线,配置在该第一介电层上,且与该源极电性连接;一第二介电层,覆盖该源极、该汲极与该资料线;一画素电极,配置于该第二介电层上,且与该汲极电性连接;以及一延伸线,连接于该资料线与该源极之间,其中该延伸线、该资料线与该源极形成一第三封闭开口。如申请专利范围第1项所述之画素结构,更包括一共用配线,适于电性连接至一共用电压,该共用配线部份位于该画素电极下方,且该共用配线的另一部份位于该资料线下方。如申请专利范围第1项所述之画素结构,其中该源极具有一第三凹口,该第三凹口位于该第一封闭开口上方,且该汲极的一端位于该第三凹口中。如申请专利范围第1项所述之画素结构,其中该扫描线部份位于该第三封闭开口中。如申请专利范围第1项所述之画素结构,其中该通道层具有一第二封闭开口,该第二封闭开口位于该第一封闭开口上方且暴露出该第一封闭开口。如申请专利范围第1项所述之画素结构,更包括一欧姆接触层,配置于该通道层、该源极与该汲极之间。一种画素结构的修补方法,适于修补如申请专利范围第4项所述之画素结构,该画素修补方法包括在该扫描线之两侧切断该资料线,使该资料线经由该延伸线与该源极导通。如申请专利范围第7项所述之修补方法,其中于该扫描线之两侧切断该资料线的方法包括雷射切割。
地址 桃园县八德市和平路1127号