发明名称 Lithographische Maske und Verfahren zur Herstellung der lithographischen Maske
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft eine lithographische Maske, die mindestens eine erste Schicht (31) mit Gräben (33) und eine zweite Schicht (32) aufweist. Die zweite Schicht (32) hat Abschnitte (321) und eine Gebiete (322), in der zweiten Schicht (32) umschließende, grabenartige, transparente Struktur (200) und wirkt beim Ätzen der Gräben (33) in die erste Schicht (31) als Maske. Die erste und die zweite Schicht (31, 32) sind so ausgeführt, dass elektrische Potentialdifferenzen in der zweiten Schicht (32) verringert oder nicht vorhanden sind.
申请公布号 DE102009017952(A1) 申请公布日期 2010.10.21
申请号 DE20091017952 申请日期 2009.04.17
申请人 ADVANCED MASK TECHNOLOGY CENTER GMBH & CO. KG 发明人 ROLFF, HAIKO;BYLOOS, CARLA;NOELSCHER, CHRISTOPH;MORGANA, NICOLO;KOEHLE, RODERICK;MOUKARA, MOLELA;NEUBAUER, RALF;PFORR, RAINER;SAVIGNAC, DOMINIQUE
分类号 G03F1/00 主分类号 G03F1/00
代理机构 代理人
主权项
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