发明名称 一种磁光椭偏测量装置及测量方法
摘要 一种磁光椭偏测量装置及测量方法,属磁性材料的磁光测量技术领域,装置由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成,利用上述装置可进行磁光椭偏的测量。本发明的特点如下:(1)光路中加入分光计可以精确测量入射角,由于分光计测量角的分辨率可以达到0.01°,故测量精度高。(2)通过对分光计改造,使其一平行光管可拆卸,避免了测量角度时需移动电磁铁的麻烦,使测量更加精确、方便。(3)光路简单实用,光路中所需的光学器件都是通用的光学器件,成本低。(4)操作方便,无需移动电磁铁就可进行材料纵向、极向磁光椭偏的测量。
申请公布号 CN101865827A 申请公布日期 2010.10.20
申请号 CN201010197891.6 申请日期 2010.06.11
申请人 山东大学 发明人 连洁;宋平;薛其坤;王晓;李萍;高尚;马峥;吴仕梁
分类号 G01N21/21(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/21(2006.01)I
代理机构 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人 许德山
主权项 一种磁光椭偏测量装置,由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成,其特征在于光路系统由衰减片,光阑、起偏器、分光计、检偏器、光阑、CCD组成,光路系统位于激光光源之后,依激光光源传送次序先后排列为衰减片、光阑、起偏器、分光计、检偏器、光阑、CCD;CCD的输出端连接到PC机上,以观察记录并计算测量结果。
地址 250100 山东省济南市历城区山大南路27号
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