发明名称 |
电子元器件相变冷却效果的测试系统 |
摘要 |
本发明公开了一种电子元器件相变冷却效果的测试系统,其包括:一蒸发室,盛装有对被测电子元器件进行相变冷却的冷剂;一冷剂温控系统,用于控制所述冷剂的温度;一电子元器件固定装置,用于将所述被测电子元器件固定在所述蒸发室的冷剂中;一冷凝和压力调节系统,用于冷凝回流所述蒸发室中产生的蒸气、并监控该蒸气的压力;一数据采集系统,用于测量、采集并监控所述冷剂和被测电子元器件的表面温度;一可视化观测系统,用于观测所述蒸发室内的被测电子元器件的表面的沸腾气泡行为,以得到气泡动力学参数。本发明的测试系统可用于不同电子元器件材料、表面形状、放置位置及倾斜角度下,不同冷剂及过冷度等条件下的相变冷却效果评价。 |
申请公布号 |
CN101865864A |
申请公布日期 |
2010.10.20 |
申请号 |
CN201010195989.8 |
申请日期 |
2010.06.08 |
申请人 |
华东理工大学 |
发明人 |
张莉;刘宇;徐宏;戴玉林;徐鹏;李建民;孙岩 |
分类号 |
G01N25/02(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N25/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 31002 |
代理人 |
薛琦;钟华 |
主权项 |
一种电子元器件相变冷却效果的测试系统,其特征在于,其包括:一蒸发室,盛装有对被测电子元器件进行相变冷却的冷剂;一冷剂温控系统,用于控制所述冷剂的温度;一电子元器件固定装置,用于将所述被测电子元器件固定在所述蒸发室的冷剂中;一冷凝和压力调节系统,用于冷凝回流所述蒸发室中产生的蒸气、并监控该蒸气的压力;一数据采集系统,用于测量、采集并监控所述冷剂和被测电子元器件的表面温度;及一可视化观测系统,用于观测所述蒸发室内的被测电子元器件的表面的沸腾气泡行为,用以得到气泡动力学参数。 |
地址 |
200237 上海市徐汇区梅陇路130号 |