| 发明名称 | 高亮度发光二极管寿命测试装置 | ||
| 摘要 | 一种高亮度发光二极管寿命测试装置，包括：一测试模块、一发光二极管、一照度计、一计算控制装置，该测试模块内部设有一感测单元、一加热单元及一冷却单元，该发光二极管设置于测试模块上，该感测单元邻近发光二极管，该照度计移动地设于发光二极管的上方，该计算控制装置分别电性连接于该感测单元、该加热单元、该冷却单元及该照度计；藉此，发光二极管在发光过程中可维持一定温环境，且发光二极管可于不同的定温环境下接受测试。 | ||
| 申请公布号 | CN201611377U | 申请公布日期 | 2010.10.20 |
| 申请号 | CN200920174279.X | 申请日期 | 2009.09.27 |
| 申请人 | 宜准科技股份有限公司 | 发明人 | 涂程咏 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 逮长明 |
| 主权项 | 一种高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，包括：一测试模块，其内部设有一感测单元、一加热单元及一冷却单元；一发光二极管，其设置于该测试模块上，该感测单元邻近该发光二极管；一照度计，其移动地设于该发光二极管的上方；以及一计算控制装置，其分别电性连接于该感测单元、该加热单元、该冷却单元及该照度计。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||