发明名称 SPECIMEN MOUNT FOR MICROSCOPY
摘要 <p>Devices, mounts, stages, interfaces and systems to be developed that allow for in situ manipulation, experimentation and analysis of specimens directly within an electron microscope.</p>
申请公布号 EP2240811(A2) 申请公布日期 2010.10.20
申请号 EP20080868958 申请日期 2008.12.22
申请人 PROTOCHIPS, INC. 发明人 MICK, STEPHEN, E.;DAMIANO, JOHN;NACKASHI, DAVID, P.
分类号 H01J37/20;H01J37/28 主分类号 H01J37/20
代理机构 代理人
主权项
地址