发明名称 一种快速X射线荧光CT方法
摘要 本发明所要解决的技术问题是提高传统X射线荧光CT的数据采集速度。本发明采取的技术方案是提供一种快速X射线荧光CT方法,具体包括用大光斑照射样品,采用加装铅准直器的阵列荧光探测器记录荧光能谱。该方法的数据采集速度与传统的X射线荧光CT方法相比可提高很多倍,数据采集速度提高的倍数与阵列荧光探测器的阵列元相当,例如对于一个64×64阵列荧光探测器,数据采集速度可提高约64×64倍,可实现快速、原位X射线荧光CT实验。
申请公布号 CN101862200A 申请公布日期 2010.10.20
申请号 CN201010171983.7 申请日期 2010.05.12
申请人 中国科学院上海应用物理研究所 发明人 邓彪;杨群;谢红兰;杜国浩;肖体乔
分类号 A61B6/03(2006.01)I;A61B6/00(2006.01)I 主分类号 A61B6/03(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 邓琪
主权项 一种快速X射线荧光CT方法,包括:(1)将单色光照射到样品上,所述样品被平移和转动,同时被激发出特征X射线荧光;(2)利用荧光探测器采集所述X射线荧光,得到X射线荧光能谱;(3)解析所述X射线荧光能谱,得到X射线荧光CT的投影数据;(4)利用X射线强度探测器采集所述样品的透射CT的投影数据;(5)根据所述X射线荧光CT的投影数据和所述透射CT的投影数据,重构出所述样品的元素分布图像;其特征在于,所述的单色光的光斑直径大于所述样品的宽度;所述的荧光探测器是加装铅准直器的阵列荧光探测器。
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