| 发明名称 |
RF INTEGRATED CIRCUIT TEST METHODOLOGY AND SYSTEM |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR20100111278(A) |
申请公布日期 |
2010.10.14 |
| 申请号 |
KR20107016041 |
申请日期 |
2008.09.11 |
| 申请人 |
SIBEAM, INC. |
发明人 |
DUNN CLIFFORD J.;PALMER GEORGE;GILBERT JEFFREY M. |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/302;H04B17/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
