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发明名称 Verfahren zur Fremdphasenuntersuchung eines einkristallinen Substrats
摘要
申请公布号 DE102008063130(B4) 申请公布日期 2010.10.14
申请号 DE200810063130 申请日期 2008.12.24
申请人 SICRYSTAL AG 发明人 WEBER, ARND-DIETRICH
分类号 G01N21/49 主分类号 G01N21/49
代理机构 代理人
主权项
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