发明名称 |
可对待测构件进行偏心拨打及倾斜拨打的测试装置及测试方法 |
摘要 |
本发明涉及一种测试装置以及测试方法,该测试装置包括:固定架;设置于固定架内且用于放置待测构件的支承台;设置于固定架上且用于对待测构件进行拨打的拨打机构;以及位置调节机构,其设置于固定架上且作用拨打机构,以调节拨打机构与待测构件之间的相对位置。本发明通过调节拨打机构相对待测构件的拨打位置及角度,对待测构件进行偏心和倾斜拨打,由此实现加严拨打,能快速放大模具的问题点并提早进行维修。 |
申请公布号 |
CN101520372B |
申请公布日期 |
2010.10.13 |
申请号 |
CN200810033975.9 |
申请日期 |
2008.02.28 |
申请人 |
深圳华映显示科技有限公司 |
发明人 |
丘向忠;梁金 |
分类号 |
G01M19/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01M19/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陈亮 |
主权项 |
一种可对待测构件进行偏心拨打及倾斜拨打的测试装置,包括:固定架;支承台,设置于所述固定架内,且用于放置待测构件;拨打机构,设置于所述固定架上,用于对所述待测构件进行拨打,其特征在于:所述测试装置进一步包括位置调节机构,其设置于所述固定架上且作用所述拨打机构,以调节所述拨打机构与所述待测构件之间的相对位置。 |
地址 |
518132 广东省深圳市宝安区光明高新技术产业园区溏明大道9号 |