发明名称 |
基于ARM核芯片的数模转换器自动测试系统及其方法 |
摘要 |
本发明涉及一种基于ARM核芯片的数模转换器自动测试系统及方法,系统包括电压测量装置、测试主机、ARM仿真器、ARM核芯片和FPGA模块,测试主机依次通过ARM仿真器、ARM核芯片、FPGA模块和被测数模转换器与电压测量装置连接。方法包括将FPGA逻辑代码烧入FPGA模块、在测试主机中存入测试代码、ARM核芯片运行测试代码并向被测数模转换器输入测试数字信号序列、记录电压测量装置测得的各组模拟电压输出值、进行后续数模转换器性能指标计算。采用该种基于ARM核芯片的数模转换器自动测试系统及方法,不容易出错,提高了测试效率,节约了测试时间,灵活性很强,具有广泛的适应性,可移植性好,结构简单实用,使用方便快捷,工作性能稳定可靠,适用范围较为广泛。 |
申请公布号 |
CN101858953A |
申请公布日期 |
2010.10.13 |
申请号 |
CN200910048936.0 |
申请日期 |
2009.04.07 |
申请人 |
上海摩波彼克半导体有限公司 |
发明人 |
王冬佳 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G01R31/3177(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 31002 |
代理人 |
王洁;郑暄 |
主权项 |
一种基于ARM核芯片的数模转换器自动测试系统,包括与被测数模转换器的模拟信号输出端相连接的电压测量装置,其特征在于,所述的系统还包括测试主机、ARM仿真器、ARM核芯片和FPGA模块,所速的测试主机依次通过所述的ARM仿真器、ARM核芯片和FPGA模块与所述的被测数模转换器的数字信号输入端相连接。 |
地址 |
201204 上海市浦东新区张衡路180弄1号楼4F |