发明名称 |
旋光度测量装置 |
摘要 |
直线偏振光输出部(701),输出直线偏振光。第1相位调制部(703),具有第1偏振光轴,相位调制直线偏振光。第2相位调制部(704),具有与第1偏振光轴正交的第2偏振光轴,相位调制直线偏振光。信号供给部(705)将相位调制直线偏振光的调制信号(Vb),供给某一个相位调制部。另外,将偏压信号(Vo),供给相位调制部(702)。光强度检出部(707),由被供给信号的相位调制部(702)向含有旋光性物质的试料(106)射出的光,被旋光后,由试料(106)透过,从而由检出该透过来的光的强度。旋光度计算部(708),根据调制信号(Vb)和被检出的光的强度,求出试料(106)的旋光度。 |
申请公布号 |
CN1768258B |
申请公布日期 |
2010.10.13 |
申请号 |
CN200480008630.8 |
申请日期 |
2004.03.26 |
申请人 |
西铁城控股株式会社 |
发明人 |
松本健志;矢野敬和;福田匡广;二上茂 |
分类号 |
G01N21/21(2006.01)I;G01J4/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/21(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
李香兰 |
主权项 |
一种旋光度测量装置,其特征在于,包括:输出直线偏振光的直线偏振光输出部;采用了利用具有所定方向的第1偏振光轴的第1相位调制部和具有与所述第1偏振光轴正交的第2偏振光轴的第2相位调制部来抵消相互的相位调制量的变化部分的结构,对由所述直线偏振光输出部输出的直线偏振光进行相位调制的、并由液晶元件构成的相位调制部;将对所述直线偏振光进行相位调制的所定振幅的调制信号,供给所述第1及第2相位调制部中的某一个相位调制部的信号供给部;由所述信号供给部向所述第1及第2相位调制部中的某一个相位调制部供给调制信号,从而由所述相位调制部向包含旋光性物质的试料射出的光,被所述旋光性物质旋光后,从所述试料透过,从而检出该透过光的强度的光强度检出单元;以及根据所述信号供给部供给的调制信号和所述光强度检出单元检出的光强度,计算所述试料的旋光度的旋光度计算单元。 |
地址 |
日本国东京都 |