发明名称 |
记录装置、读取装置、记录方法及读取方法 |
摘要 |
光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息,按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序,排列在该结构信息(TDDS)中。 |
申请公布号 |
CN1942964B |
申请公布日期 |
2010.10.13 |
申请号 |
CN200680000033.X |
申请日期 |
2006.01.13 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
甲斐田优;伊藤基志 |
分类号 |
G11B20/12(2006.01)I;G11B7/007(2006.01)I;G11B7/004(2006.01)I;G11B20/10(2006.01)I |
主分类号 |
G11B20/12(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
覃鸣燕 |
主权项 |
一种记录装置,用于向以簇为单位将数据记录在上面的一次写入式光盘写入缺陷区列表,该记录装置包括:生成单元,用于生成所述缺陷区列表和结构信息;以及写入单元,用于将包括生成的所述缺陷区列表和结构信息的结构写入临时缺陷管理区中的至少一个簇,其中所述缺陷区列表包括所述光盘中一个或多个缺陷区的项,所述结构信息排列在所述结构的多个簇中最后一个簇里,以及所述结构信息包括表示簇位置的多条位置信息,所述簇中的每一个都包括所述缺陷区列表一部分,更新所述结构时,所述生成单元按照缺陷区列表里的项的位置信息对所述结构中所述缺陷区列表里的所述项进行排序,以及所述写入单元写入所述临时缺陷管理区中所述至少一个簇的所述结构由无缺陷簇组成。 |
地址 |
日本大阪府 |