| 发明名称 | 老化测试箱 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种老化测试箱，包括设置于所述老化测试箱的测试板上的多个老化测试插座，第一温度传感器以及加热器，所述第一温度传感器检测所述老化测试箱内的温度，得到第一温度值，所述加热器根据所述第一温度值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭，其中，所述老化测试箱内至少设置有一个具有交换器的盖板，所述盖板与待老化测试器件之间设置有第二温度传感器，所述第二温度传感器检测待老化测试器件的温度，得到待老化测试器件的实际温度值，根据待老化测试器件的实际温度值与待老化测试器件的温度设定值对待老化测试器件进行单独的热交换处理。本发明的老化测试箱提高了老化测试结果的准确性，实现了多种不同器件的同时老化测试。 | ||
| 申请公布号 | CN101858957A | 申请公布日期 | 2010.10.13 |
| 申请号 | CN201010187310.0 | 申请日期 | 2010.05.27 |
| 申请人 | 北京新润泰思特测控技术有限公司 | 发明人 | 沈冲;王斌;陈剑晟;羡迪新;陈驰;高建辉 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种老化测试箱，包括设置于所述老化测试箱的测试板上的多个老化测试插座，第一温度传感器以及加热器，所述第一温度传感器检测所述老化测试箱内的温度，得到第一温度值，所述加热器根据所述第一温度值与老化测试箱的温度设定值启动或关闭，其特征在于：所述老化测试箱内至少设置有一个具有交换器的盖板，所述盖板与待老化测试器件之间设置有第二温度传感器，所述第二温度传感器检测待老化测试器件的温度，得到待老化测试器件的实际温度值，根据待老化测试器件的实际温度值与待老化测试器件的温度设定值对待老化测试器件进行单独的热交换处理。 | ||
| 地址 | 100088 北京市海淀区北三环中路31号3号办公楼 | ||