发明名称 空符元侦测装置及方法
摘要
申请公布号 TWI331861 申请公布日期 2010.10.11
申请号 TW096102659 申请日期 2007.01.24
申请人 瑞昱半导体股份有限公司 发明人 何维鸿;陈进泰
分类号 H04L1/20 主分类号 H04L1/20
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种空符元侦测装置,适用于侦测一输入信号中之一空符元,该空符元侦测装置包含:一第一滤波器,将该输入信号进行滤波,以得到一第一输出信号,且该第一输出信号系用以追踪通道之影响;一第二滤波器,将该输入信号进行滤波,以得到一第二输出信号,且该第二输出信号系用以追踪出该输入信号之该空符元;及一判断器,系依据该第一输出信号与该第二输出信号,以判断出该输入信号之该空符元。依据申请专利范围第1项所述之空符元侦测装置,其中,该第二输出信号系用以追踪该输入信号的平均强度。依据申请专利范围第1项所述之空符元侦测装置,其中,该第一滤波器和该第二滤波器分别为两种具有不同频宽的低通滤波器。依据申请专利范围第1项所述之空符元侦测装置,其中,该判断器包括一减法器及一比较器这两者中的其中之一。依据申请专利范围第4项所述之空符元侦测装置,其中,该判断器更包括一乘法器。依据申请专利范围第1项所述之空符元侦测装置,其中,该判断器比较该第二输出信号与该第一输出信号乘上一第一比例值,以判断该空符元的一起始点。依据申请专利范围第6项所述之空符元侦测装置,其中,该判断器比较该第二输出信号与该第一输出信号乘上一第二比例值,以判断该空符元的一终止点。依据申请专利范围第7项所述之空符元侦测装置,其中,该判断器根据该空符元的该起始点与该终止点以判断出空符元的长度。依据申请专利范围第1项所述之空符元侦测装置,其中,该判断器更包括一计数器,用以计数该空符元的长度。依据申请专利范围第1项所述之空符元侦测装置,更包含一模式决定器,该模式决定器根据该判断器所判断出之该空符元来决定出该输入信号的一传输模式。一种空符元侦测方法,用以侦测一输入信号中之一空符元,该方法包含:将该输入信号进行滤波,以产生一第一输出信号,且该第一输出信号系用以追踪通道之影响;将该输入信号进行滤波,以产生一第二输出信号,且该第二输出信号系用以追踪该输入信号之空符元;及依据该第一输出信号与该第二输出信号,以判断出该输入信号之空符元。依据申请专利范围第11项所述之方法,其中,在产生第二输出信号的步骤中,该第二输出信号系用以追踪该输入信号的平均强度。依据申请专利范围第11项所述之方法,其中,在产生第一输出信号的步骤中,系依据一第一权重值将该输入信号进行滤波,且在产生第二输出信号的步骤中,系依据一第二权重值将该输入信号进行滤波,且该第一权重值小于该第二权重值。依据申请专利范围第11项所述之方法,其中,在判断出该空符元的步骤中,比较该第二输出信号小于该第一输出信号乘上一第一比例值,以判断出该空符元的起始点。依据申请专利范围第14项所述之方法,其中,在判断出该空符元的步骤中,比较该第二输出信号大于该第一输出信号乘上一第二比例值,以判断出该空符元的终止点。依据申请专利范围第15项所述之方法,更包含:根据该空符元的起始点与终止点以决定出该空符元之长度。依据申请专利范围第16项所述之方法,更包含:根据判断出之空符元的长度决定该输入信号的传输模式。依据申请专利范围第11项所述之方法,更包含:根据判断出之空符元以决定该输入信号的传输模式。依据申请专利范围第11项所述之方法,更包含:根据判断出之空符元以决定该空符元的长度。
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