发明名称 Probe Unit and Inspection Apparatus
摘要
申请公布号 KR100986640(B1) 申请公布日期 2010.10.08
申请号 KR20080032098 申请日期 2008.04.07
申请人 发明人
分类号 H01L21/66;G01R1/073 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
地址